物理与工程
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关键词:椭偏仪
薄膜厚度测控技术中的物理原理
许世军
2001年02期
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椭偏法测量薄膜参数的实验改进
姚志;丁洪斌;杨华;
2013年05期 v.23;No.157
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椭偏法测量薄膜参数的实验改进
姚志;丁洪斌;杨华;
2013年05期 v.23;No.157
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教学型椭偏仪测量各向异性单轴晶体光学参数的方法研究
张锁歆;钱建强;郝维昌;秦雨浩;姚星群;
2018年03期 v.28;No.185
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教学型椭偏仪测量各向异性单轴晶体光学参数的方法研究
张锁歆;钱建强;郝维昌;秦雨浩;姚星群;
2018年03期 v.28;No.185
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