物理与工程

2013, v.23;No.157(05) 42-44+50

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椭偏法测量薄膜参数的实验改进
EXPERIMENTAL IMPROVEMENT OF MEASURING THIN FILM PARAMETERS BY ELLIPSOMETRY METHOD

姚志,丁洪斌,杨华

摘要(Abstract):

介绍了椭偏仪实验装置及实验调整的不足对薄膜参数测量的影响,制作了小孔光阑和可调位移平台,对光接收和实验调整做了改进,给出了改进的实验调整和实验测量方法,改进后的实验调整简单易调,测量精度得到提高.

关键词(KeyWords): 椭偏仪;载物台;等幅椭圆偏振光;光接收器

Abstract:

Keywords:

基金项目(Foundation):

作者(Author): 姚志,丁洪斌,杨华

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