半导体硅的Seebeck系数和电阻率测量SEEBECK COEFFICIENT AND ELECTRICAL RESISTIVITY OF SILICON
赵伟,侯清润,陈宜保,何元金
摘要(Abstract)：
本文介绍了半导体硅的Seebeck系数和电阻率的测量,与Hall系数和电阻率测量实验相对应,从另一个方面了解半导体导电性能的一些特征.由Seebeck系数的正负号确定载流子的类型是P型还是N型.半导体内有两种导电机制:杂质导电和本征导电.在杂质导电区,可以确定晶格散射因子;在本征导电区,可以确定硅的禁带宽度.
关键词(KeyWords)： 半导体硅;Seebeck系数;电阻率
基金项目(Foundation):
作者(Author): 赵伟,侯清润,陈宜保,何元金
参考文献(References)：
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