刘漪,陈萦,刘芬

• 1:北京轻工业学院基础部
• 2:北京理化分析测试中心

摘要(Abstract)：

本文报告了用Ｘ光电子能谱法（ＸＰＳ）对氮氧化铝／铁膜内层电子特征能量的探测与分析，获得了膜层中不同深度的元素成分及化学结构．结果表明：ＸＰＳ方法是研究氮氧化铝选择性吸收膜的有效方法．

关键词(KeyWords)： X光电子能谱；氮氧化铝；特征能量

Abstract:

Keywords:

基金项目(Foundation):

作者(Author): 刘漪,陈萦,刘芬

参考文献(References)：

• 1］ZhangQi－chu，MilsDR．Newcermetfilmstructureswithexcelentsolarperformance，SchoolofPhysics．Sydney，NSW2006Aus－tralia：TheUniversityofSydney，1991．［2］BriggsD，SeahMP，ed．PracticalSurfaceAnalysis，2nded．，Vol．1，Chichester：JohnWiley＆Sons1990．［3］王建祺等．电子能谱学（XPS／XAES／UPS）引论．北京：国防工业出版社，1992